Gianelli, Bruno Fernando, IFSP- Instituto Federal de Educação, Ciência e Tecnologia de São Paulo., Brasil
V Congresso de Iniciação Científica do IFSP Itapetininga - RESUMO
AVALIAÇÃO DE ESPESSURA DE NANOFILME DE SILÍCIO DEPOSITADO SOBRE UMA LIGA DE ALUMÍNIO AL1350, EMPREGANDO MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA, ATRAVÉS DE TÉCNICAS DE NÃO CONTATO E DIFERENÇA DE POTENCIAL ELÉTRICO/CORRENTE ResumoPDF
